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「誘電体」と「絶縁体」は両方とも電気絶縁を指します。短絡を防ぎ、人々を感電から保護します。絶縁破壊試験と絶縁抵抗試験は、絶縁の有効性を証明するという基本的な目的は同じですが、使用する方法は異なります。
絶縁破壊
絶縁破壊試験では、技術者が通常よりも高い電圧を電気部品に印加して、絶縁が破壊されて電気が伝導し始める電圧を決定します。これはブレークダウン電圧と呼ばれます。
絶縁抵抗
絶縁抵抗試験では、絶縁体または誘電体の抵抗を測定します。このテストでは、技術者が絶縁体に流れる電流を測定する目的で、絶縁体に中程度の電圧を印加します。次に、オームの法則計算を使用して、電圧を電流で除算して抵抗を求めます。測定される電流はミリアンペアまたはマイクロアンペア単位で小さいため、抵抗は数百万オームになります。これは絶縁体に一般的です。
アプリケーションの利点
どちらのテストも、デザイナー、技術者、ユーザーに役立つ情報を提供します。設計者は、絶縁破壊と絶縁テストからの情報を使用して、コンポーネントの絶縁を再設計または再パッケージ化するか、コンポーネント仕様シートに絶縁破壊と絶縁抵抗値を単に含めることができます。